过程能力分析SPC管理程序全套.docx

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1、过程能力分析SPC管理程序全套1 .目的：提供SPC的使用准则及步骤，并说明使用方法，以便在运用控制图时能够正确地决定、检讨管制界限与进行控制图的判读。2 .范围:X-R控制图、P管理图、CPK（工程能力指数）等基础统计知识的运用管理。3权责:3.1 技术部3.1.1 主导SPC技术在产品导入和生产过程中的使用和规划参与SPC异常的分析和实施改进措施。3.2 品管部3.2.1 利用SPC技术进行异常点的判断，参与异常的分析、实施改进措施，对异常点所采取的措施进行改善效果的确认。3.3.1对SPC异常点进行原因分析和采取改进的措施。4.定义：4.1 计量值特性4.1.1 凡产品的品质特性以实际测

2、量方式取得的特性称为计量特性，例如：重量或长度等（X-R控制图）。4.2 计数值特性4.2.1 凡产品的品质特性不连续、不易或不能以实际测量方式取得，只能间断取值的特性，例如：不合格数、不良率等（P管理图）。43SPC:Statistica1ProcessContro1,统计制程控制。4.4 UC1:管制上限。4.5 1C1:管制下限。4.6 CPK:制程能力（长期），量产阶段之制程能力。4.7 PPK:制程能力（短期），试产阶段之制程能力。4.8 过程能力;（Capabi1ityProCeSS）一个稳定过程的固有变差的总范围。4.9 变差：过程的单个输出之间不可避免的差别。5.作业内容:5.

3、1 控制图使用规则及选择原则5.1.1 使用规划5.1.1.1 技术部根据各制造过程或工序影响因素及质量特性，全面规划需要控制图控制的制程或工序，品管部在控制计划中明确规定；5.1.1.2 品管部根据控制计划要求建立SPC控制，并判读异常。当出现异常时，发出品质异常通知单给责任部门采取措施，并对效果进行验证；5.1.2 选择原则5.1.2.1 计量值特性选用-R控制图；5.1.2.2 计数值特性选用P控制图；5.2 控制图绘制、使用步骤5.2.1 分析用控制图的作业程序5.2.1.1 决定须管制的特性；5.2.1.1.1 搜集25组数据;5.2.1.1.2 计算中心线（平均值）及管制上、下限；

4、5.2.1.1.3 绘制控制图；521.14检查是否有超出管制界限的点;5.2.1.1.5 将这些超出管制界限的资料剔除重新计算中心线（平均值）及管制上、下限；5.2.1.1.6 决定控制图的中心线（平均值）及管制上、下限；5.2.2控制用控制图的作业程序5.2.2.1 在新的控制图纸划出控制图的中心线坪均值）及管制上、下限；5.222依规定的抽样频率及抽样数,并将所得资料记录于控制图上,且依所使用的控制图种类进行计算；5.2.23将计算结果点于控制图上；5.2.2.4判断控制图并对异常点采取纠正和预防措施。5.2.2.4.1 品管部依控制图判异原则对控制图进行判读；5.2.2.4.2 责任部

5、门对异常点进行原因分析和实施对策。5.2.2.5.1 当完成一张控制图时,根据控制图图纸上的资料重新计算中心线（平均值）及管制上、下限。计算时须剔除超出管制界的点；5.2.2.5.2 比较计算前后之中心线（平均值）及管制上、下限；5.2.2.53若无重大差异时在新的控制图纸延用旧的管制限；52254若有明显的差异时，则以计算后的管制限为准，作为后续SPC管制的基准。5.3控制图判读原则及异常处理5.3.1 正常之控制图其各点的动态为：5.3.1.1 多数的点集中在中心线附近；5.3.1.2 少数的点落在管制界限附近（但未超出管制界限）；53.1.3各点的分布呈随机状态，无任何规则可循。5.3.

6、2异常之控制图的判读5.3.2.1任何超出控制限的点；53.2.2连续7个点在中心线之上或之下；53.2.4任何其它明显的非随机图形,如2/3的描点没落在控制限1/3的中间区域片苗点成规则形状（人为的操作原因造成）。5.3.3异常处理53.3.1 对于任何异常情况,品管部应先检查数据的准确无误，然后发出异常报告给相关单位进行原因分析和对策制定，并由相关部门实施对策；53.3.2 品管部应对相关部门的对策进行跟进和效果确认。5.4-R控制图的使用方法-R控制图是以管制平均值（X控制图）与全距（R控制图）的方式达到管制目的。5.4.1 决定样数本5.4.1.1 使用-R控制图的样本数（n）以2-5

7、个为适当，但不要超过10个为宜;5.4.1.2 样本一经决定后必须在使用时固定不变；5.4.2 平均值与全距的计算5.4.2.1 平均值（）=各组内数据的和样本数。5.4.2.2 全距（R）=各组内的最大值-最小值。5.4.3 X控制图与R控制图之中心线与管制上、下限的计算公式5.43.1控制图之中心线与管制上、下限的计算公式：中心线C1=各组平均的总和组数管制上限UC1=+A2R其中A2请依样本数n查系数表管制下限1C1二-A2R5.4.3.2R控制图之中心线与管制上、上限的计算公式：中心线C1=R=各组全距的总和组数=平均全距管制上限UC1=D4R（其中D4请依样本数N查系数表）管制下限1

8、C1=D3R其中D3请依样本数N查系数表5A3.3-R控制图的系数表样本数平均值控制图R控制图NA2D2D3D421.881.130.0003.2731.021.690.0002.5740.932.060.0002.2850.582.330.0002.1160.482.530.0002.0070.422.700.081.9280.372.850.141.8690.342.970.181.82100.313.080.221.785.5 P控制图的使用方法P控制图是以管制不良率的方式达到管制的目的。5.5.1 决定样本数5.5.1.1 使用P控制图的样本数(N)以能够发现1-5个不良品最为适当,样

9、本数的决定公式为：N=1p或N=5P(此时平均不良下限率P可从过去资料得知)；5.5.1.2 若未决定样本数,导致管制下限小于0,则下限取Oo5.5.2 控制图的管制界限必须依管制上、下限公式计算若样本改变时，以实际样本数代入；5.5.3 控制图之中心线及管制上、下限的计算公式：管制上限管制下限5.6 制程能力指数CPK使用规划由工程课根据各制造过程或工序影响以及质量特性规划，并规定在控制计划中。5.6.1 制程能力指数使用制程能力指数时，应依统计学的原则，同时衡量制程中的集中（平均）与分数（变异）状况，以确实掌握制程品质特性；5.6.2 制程能力指数运用的前提；5.6.2.1 所使用的规格上

10、下限依内部或客户要求；5.6.2.2 当Cpk1说明制程能力差，不可接受；1Cpk1.33,说明制程能力可以，但需改善；1.33Cpk167,说明制程能力正常;如客户另有特定制程指数值要求,而制程无法达到时，由品管部提出相关数据后同客户协商。5.6.23指数计算的结果可能因抽样误差而有所差异，使用时掌握其等级，并采取适当措施。5.6.3制程能力指数的计算5.63.1符号说明US1:表示工程规格上限；1S1:表示工程规格下限；:表示自所搜集或抽样资料中所推算（估计）的标准差；S:样品标准差；5.63.2制程能力指数计算公式Cpk:相对于规格同时表示制程集中与变异的指数。公式：PPK=或5.6.33标准差估计公式d2对于-R控制图，R是子组极差的均值，对于X-MR控制图，R为移动极差的均值，d2是随样本容量变化的常数，见下表。n2345678910d21.131.6920.62.332.532.702.852.973.08注：只有过程受控，才可直接用的估计值来评价过程能力。5.63.4制程能力指数异常的处理：当制程能力指数低于客户要求时，由品管部发出异常报告给相关部门改善。量产时能力不足，由品管部组织相关人员对产品进行100%检查。6.参考文件：6.1 SPC手册7相关记录:-R控制图7.2初始过程能力研究计划8.附件:8.1SPC选择流程图