卡尺高度尺内校作业指导书.docx

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1、1、目的：确保校准结果的准确性，使校准作业规范化。2、适用范围：本标准适用于本公司现有各种类型之卡尺，包括高度尺（仪）、游标卡尺、带表卡尺、电子数显卡尺。3、职责和权限：31、各部门：负责仪器、量具的维护与保养.3.2、品质部（仪校人员）：负责量块和外校卡尺的维护与保养，内校结果的记录和校验标识的确认.4、术语和定义：无5、作业程序:5.1、 卡尺结构：5.1.1、 游标卡尺结构如下图所示。图 15.1.2、 1. 2、电子数显卡尺结果如下图所示。5.1.3、 3、带表卡尺结构如下图所示。刀口内量爪尺椎紫冏幄灯尺身 主标尺深度测片料5.1.5、 测高仪结构如下图所示:5.2、 校准基准：标准量

2、块（外校合格的标准件）和外校合格的电子数显卡尺。5.3、 校准环境及周期：温度20+/-5、湿度W80%RH,静置2小时以上，校准周期为半年。5.4、 校准步骤:5. 4. 1校准前：5. 4. 1.1、目测尺身、量爪、深（高）度测量杆是否有弯曲变形.5. 4.1. 2、检验游尺与本尺全程滑动时是否顺畅.5.4.1.3、归零后，目测观察内外径（探针）的测量面是否完全密合.5. 4.1.4.检查深（高）度测量杆的磨损状况.5.4. 1.5.检查影响测量内外径的测量面是否完全密合.5.5. 1.6,紧固螺丝的作用是否有效.5.6. 1.7、带表卡尺需检查卡尺指针运动是否平稳、灵活.5.7. 1.8

3、,电子数显类卡尺需检验数字显示是否平稳、灵敏.5.4.2、 校验中:5.4.2.1、 将适当的标准量块（外校合格的标准件）放在平台上对卡尺进行校正.5.4.2.2、 调校零位，或使指针对准零点。5.4.2.3、 取23块任意基准量块进行度量，量块被测面要干净、平整。每块连续测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内，将其平均值记录在仪校检验报告内。允许误差范围根据不同卡尺的精度分为0. 01mm、0. 02mmo5.4.2.4、 2. 4、测内径接触面磨损程度：取两块量块（构成测量的基准面）夹紧一块量块成“H”型，然后移动表头，使卡尺上面的测量端张开后靠紧两基准面进行读数，每块测量三次，取平均值

4、。测量值与标准值根据不同卡尺的精度分为0.01mm、0. 02mm,将其平均值记录在仪校检验报告中。5. 4. 2. 5、可根据不同量程的卡尺选用不同的基准量块或组合进行校准.5.5、 校验后：5.5.1、 如果测量误差过大，不调整时或维修时应暂停使用，无法维修者作报废处理.5.5.2、 标准量块使用完毕后，须擦拭干净，并喷上防锈油，放回固定位置保存。5.6、 判定标准：示值误差不超过以下所列标准即为合格。测量范围允许误差0-150mm外径及内径0. 02mm2Omni 深（图）度：0. 02mm150-200mm0. 04mm200-300mm0. 04mm300-500mm0. 04mm6. 4. 5记录保存：校验合格后，贴上校验合格标签；校验不合格时，依实际情况定为暂停使用，严重者作报废处理;将校验结果登录在仪校检验报告上并归档保存。6、流程图：无7、相关文件：7.1、 仪器、量具校正管制程序7.2、 仪器、量具维护保养指引8、相关表单:8.1、仪校检验报告9、附件：无