卡尺高度尺内校作业指导书.docx

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1、1、目的:确保校准结果的准确性,使校准作业规范化。2、适用范围:本标准适用于本公司现有各种类型之卡尺,包括高度尺(仪)、游标卡尺、带表卡尺、电子数显卡尺。3、职责和权限:31、各部门:负责仪器、量具的维护与保养.3.2、品质部(仪校人员):负责量块和外校卡尺的维护与保养,内校结果的记录和校验标识的确认.4、术语和定义:无5、作业程序:5.1、 卡尺结构:5.1.1、 游标卡尺结构如下图所示。图 15.1.2、 1. 2、电子数显卡尺结果如下图所示。5.1.3、 3、带表卡尺结构如下图所示。刀口内量爪尺椎紫冏幄灯尺身 主标尺深度测片料5.1.5、 测高仪结构如下图所示:5.2、 校准基准:标准量

2、块(外校合格的标准件)和外校合格的电子数显卡尺。5.3、 校准环境及周期:温度20+/-5、湿度W80%RH,静置2小时以上,校准周期为半年。5.4、 校准步骤:5. 4. 1校准前:5. 4. 1.1、目测尺身、量爪、深(高)度测量杆是否有弯曲变形.5. 4.1. 2、检验游尺与本尺全程滑动时是否顺畅.5.4.1.3、归零后,目测观察内外径(探针)的测量面是否完全密合.5. 4.1.4.检查深(高)度测量杆的磨损状况.5.4. 1.5.检查影响测量内外径的测量面是否完全密合.5.5. 1.6,紧固螺丝的作用是否有效.5.6. 1.7、带表卡尺需检查卡尺指针运动是否平稳、灵活.5.7. 1.8

3、,电子数显类卡尺需检验数字显示是否平稳、灵敏.5.4.2、 校验中:5.4.2.1、 将适当的标准量块(外校合格的标准件)放在平台上对卡尺进行校正.5.4.2.2、 调校零位,或使指针对准零点。5.4.2.3、 取23块任意基准量块进行度量,量块被测面要干净、平整。每块连续测量三次,每次测量值均应在允许误差范围内,将其平均值记录在仪校检验报告内。允许误差范围根据不同卡尺的精度分为0. 01mm、0. 02mmo5.4.2.4、 2. 4、测内径接触面磨损程度:取两块量块(构成测量的基准面)夹紧一块量块成“H”型,然后移动表头,使卡尺上面的测量端张开后靠紧两基准面进行读数,每块测量三次,取平均值

4、。测量值与标准值根据不同卡尺的精度分为0.01mm、0. 02mm,将其平均值记录在仪校检验报告中。5. 4. 2. 5、可根据不同量程的卡尺选用不同的基准量块或组合进行校准.5.5、 校验后:5.5.1、 如果测量误差过大,不调整时或维修时应暂停使用,无法维修者作报废处理.5.5.2、 标准量块使用完毕后,须擦拭干净,并喷上防锈油,放回固定位置保存。5.6、 判定标准:示值误差不超过以下所列标准即为合格。测量范围允许误差0-150mm外径及内径0. 02mm2Omni 深(图)度:0. 02mm150-200mm0. 04mm200-300mm0. 04mm300-500mm0. 04mm6. 4. 5记录保存:校验合格后,贴上校验合格标签;校验不合格时,依实际情况定为暂停使用,严重者作报废处理;将校验结果登录在仪校检验报告上并归档保存。6、流程图:无7、相关文件:7.1、 仪器、量具校正管制程序7.2、 仪器、量具维护保养指引8、相关表单:8.1、仪校检验报告9、附件:无

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