15-SPC控制程序.docx

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1、* (深圳)有限公司HAODELI ELECTRONICS(SHENZHEN) CO.,LTD.SPC控制程序文件编号：HDL-QPM-15页 数：5版 本：A/1编写单位：品管部核准审核制订如果受控章不是红色，那是无受控章效的副本，请参阅有效的版本修改履历版次修订内容说明修订日期备注A/1增加修改履历和QC08000:2017标准内容2020.5.41.0.目的：根据统计学原理，运用相关的统计技术，对公司生产活动过程中的资料进行分析，以作质量改进与持续改善之依据，以便进一步完善质量管理系统，满足客户的需求。2.0.范围：本公司质量管理体系，从质量目标、进料检验、制程管制、产品出货检验，客户抱

2、怨退货等活动各项质量记录的整理，汇总并进行统计分析之。3. 0.权责：3.1. 研发部、品保部：负责收集、汇总与质量管理体系相关的资料并进行统计分析。3. 2.品保部：负责对生产能力进行制程能力分析，绘制管制图。3.3. 相关部门：负责对本部门质量管理活动的资料收集、汇总整理。4.0.定义：4.1.计量型测量：指对产品的质量特性通过实际量测方式取得连续性的数据，如长度或重量等。42计数型测量：是指产品的质量特性不稳定、不连续、不易或不能以实际测量的方式取得，只能间断取值的特性，如不合格数等。5.0程序内容：5. 1.品保部根据实际现状，明确各类管制项目、统计方法及责任部门，由责任部门提报管制项

3、目及统计方法，由品保部统一汇总。5. 2.根据记录控制程序，品保部进行来料质量统计，制造不良和报废统计，客户投诉与退货统计等。5. 3.品保部依据工程图纸，客户要求或产品实际状况的要求，对产品的重要参数做Xbar-R管制图、CPK值,并知会相关部门查找原因加以改善。1.3. 1.管制图使用规则：由品保部根据各生产制造过程或工序影响因素，质量特性及工程、客户要求，结合成本及效率，从为公司增值的角度，全面规划需采取管制图控制的制程或工序。5. 3. 2.管制图选择原则：依目前公司现状，选Xbar-R管制图对计量型质量特性做管制。6. 3. 3.管制图绘制、使用步骤：a）第一次使用管制图的作业程序；

4、1）决定须管制的特性；2）最少收集25-30组数据，每组取样本5个；3）计算中性线（平均值）及管制上、下限；4）绘制管制图；5）检查是否有超出管制界限的点；6）将这些超出管制界限的资料剔除，并计算中心线（平均值）及管制上、下限；7）决定管制图的中心线（平均值）及管制上、下限。b）现场使用管制图作业程序1）在新的管制图纸上画出管制图的中心线（平均值），R管制上、下限；2）依规定的抽样频率及抽样数，将所得数据记录于管制图上，且依使用的管制图种类进行计算;3）将计算结果点与管制图上；4）管制图判读及异常管制图的纠正与预防措施。检讨管制界限：（1）当完成一张管制图时，根据管制图纸上的资料重新计算中心线

5、（平均值）及管制上、下限，计算时须剔除超出管制界限的数据；（2）比较计算前后之中心线（平均值）及管制上、下限；（3）若无重大差异时在新的管制图纸用计算后的管制中心线（平均值）；（4）若有明显的差异时，可在新的管制图纸使用计算后的管制中心线（平均值）及管制上、下限。5. 3. 4.管制图判读原则及异常管制图的纠正与预防措施a）正常之管制图其各点的动态为：1）多数点集中在中心线附近；2）少数点落在管制界限附近（但未超出管制界限）；3）不同的工序，各点的分布有差异。b）异常管制图的判读：1）任何超出管制图界限的点；2）连续7个点在中心线之上或之下；3）连续7个点上升或下降；4）任何其它明显的非随机图

6、形，如2/3的描点落在管制界限1/3数中间区域，描点成规则形状。c）异常之管制图的纠正与预防措施：1）任何超出控制界限的点，由制作者请相关部门进行原因分析，并采取纠正措施及确认改善效果。2）对于连续7个点在中心线之上或之下，或连续7个点上升或下降，或其它明显非随机图形，应提请相关部门分析原因，留意趋势采取相应预防措施，并确认改善效果。5. 3. 5 Xbar-R管制图的使用方法Xbar-R管制图是以管制平均值（X管制图）与全距CR管制图的方式达到管制的目的。a）决定样本数1）使用Xbar-R管制图的样品数（n）以5个为适当；2）样品数一经决定后必须在使用时固定不变。b）平均值与全距的计算1）平

7、均数X二各组内数据的和/样品数2）全距（R）二样组内最大值-最小值5. 3.6 X管制图与R管制图之中心线与管制上、下限的计算公式:1） X管制图之中心线与管制上、下限的计算公式：中心线CLX二Xba厂各组平均的总和/组数管制上限UCLX=Xbar+A2R（其中A2请依样本数n查系数表）管制下限UCLX= Xbar-A2R （其中A2请依样本数n查系数表）2） R管制图之中心线与管制上、下限的计算公式：中心线CLR二R二各组全距的总和/组数二平均全距管制上限UCLR=D4R （其中D4请依样本数n查系数表）管制下限UCLR=D3R（其中D3请依样本数n查系数表）3） Xbar-R管制图的系数表

8、样品数N平均数管制图R管制图A2D2D3D421.8801.130.0003.26731.0231.690.0002.57540.7292.060.0002.28250.5772.330.0002.11560.4832.530.0002.00470.4192.700.0761.92480.3732.850.1361.86490.3372.970.1841.816100.3083.080.2231.7775. 3. 7.制程能力指数CPK使用规划由品保部根据各制造过程或工序影响以及质量特性，结合成品及效益，从为公司增值的角度，全面规划需进行的制程能力控制。a）制程能力指数：使用制程能力指数时，应

9、依统计系数原则，同时衡量制程中的集中（平均）与分数（变异）状况，以确实掌握制程质量特性。b）CPK值的分级与衡量等级CPK值相应标准不良率（PPM）相应措施A2.0以上工60.002本公司的优势，需要时配合管制图管制B1.672.0工5PW0.57希望制程能达到的水平均数，应进行管制C1.331.67叁4PW60产品可免检，应考虑配合管制图管制D1.01.33三3PW2700制程有改善空间，要改善并可采取抽样的方式检验产品E0.67-1.0叁245500制程应进行项目改善，确认唯有合格才可进入下工序F0.33-0.67 2PW 317400制程很差，实施全检6. 0.相关档1. 1.生产程控程序6. 2.记录控制程序7. 0.相关记录7. 1.SPC分析图表7. 2.质量异常处理单8. 0.附件:SPC分析流程图程序流程权责部门相关文件/表格OK相关表单(Xbar-R 管制图CPK相关分析报告品质异常处理单相关部门相关部门各相关部门各相关部门责任部门责任部门责任部门持续改善