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1、图9硅通孔转接板-适子创运资讯石TSV转接板的制造流程如T:将光刻胶涂覆到裸Si晶圆上,利用掩膜板经过曝光后确定TSV孔的位置,并对其进行显影工艺;采用激光或深反应离子刻蚀(DeepReactiveIonEtching,DRIE)工艺刻蚀形成符合设计要求的TSV孔;由于Si是半导体材料,为了防止TSV漏电以及TSV间的串扰,必须在TSV孔壁上制作Si02绝缘层,因此需要采用等离子体增强化学气相沉积(PlasmaEnhancedChemicalVaporDeposition,PECVD)的方法将Si02绝缘层沉积至TSV孔内壁上;为了防止填充材料与Si02或Si之间发生相互扩散,使用PVD方法进
2、行阻挡层的制作,阻挡层的材料一般为Ti、TiN或Ta;若在后续TSV中导电材料填充的过程中使用电镀工艺,则需使用PVD方法在阻挡层内壁上沉积一层Cu种子层,这是由于电镀工艺进行的前提条件为结构导电,因此需要在阻挡层表面覆盖一层种子层作为导电层,而最常用的TSV种子层材料为Cu;TSV孔的填充方法不止一种,包括采用电镀方法填充Cu、Ti、Al或焊料,采用溅射方法填充W,或者采用真空印刷方法填充聚合物等;图9硅通孔转接板-适子创运资讯石TSV转接板的制造流程如T:将光刻胶涂覆到裸Si晶圆上,利用掩膜板经过曝光后确定TSV孔的位置,并对其进行显影工艺;采用激光或深反应离子刻蚀(DeepReactiv
3、eIonEtching,DRIE)工艺刻蚀形成符合设计要求的TSV孔;由于Si是半导体材料,为了防止TSV漏电以及TSV间的串扰,必须在TSV孔壁上制作Si02绝缘层,因此需要采用等离子体增强化学气相沉积(PlasmaEnhancedChemicalVaporDeposition,PECVD)的方法将Si02绝缘层沉积至TSV孔内壁上;为了防止填充材料与Si02或Si之间发生相互扩散,使用PVD方法进行阻挡层的制作,阻挡层的材料一般为Ti、TiN或Ta;若在后续TSV中导电材料填充的过程中使用电镀工艺,则需使用PVD方法在阻挡层内壁上沉积一层Cu种子层,这是由于电镀工艺进行的前提条件为结构导电
4、,因此需要在阻挡层表面覆盖一层种子层作为导电层,而最常用的TSV种子层材料为Cu;TSV孔的填充方法不止一种,包括采用电镀方法填充Cu、Ti、Al或焊料,采用溅射方法填充W,或者采用真空印刷方法填充聚合物等;图9硅通孔转接板-适子创运资讯石TSV转接板的制造流程如T:将光刻胶涂覆到裸Si晶圆上,利用掩膜板经过曝光后确定TSV孔的位置,并对其进行显影工艺;采用激光或深反应离子刻蚀(DeepReactiveIonEtching,DRIE)工艺刻蚀形成符合设计要求的TSV孔;由于Si是半导体材料,为了防止TSV漏电以及TSV间的串扰,必须在TSV孔壁上制作Si02绝缘层,因此需要采用等离子体增强化学
5、气相沉积(PlasmaEnhancedChemicalVaporDeposition,PECVD)的方法将Si02绝缘层沉积至TSV孔内壁上;为了防止填充材料与Si02或Si之间发生相互扩散,使用PVD方法进行阻挡层的制作,阻挡层的材料一般为Ti、TiN或Ta;若在后续TSV中导电材料填充的过程中使用电镀工艺,则需使用PVD方法在阻挡层内壁上沉积一层Cu种子层,这是由于电镀工艺进行的前提条件为结构导电,因此需要在阻挡层表面覆盖一层种子层作为导电层,而最常用的TSV种子层材料为Cu;TSV孔的填充方法不止一种,包括采用电镀方法填充Cu、Ti、Al或焊料,采用溅射方法填充W,或者采用真空印刷方法填
6、充聚合物等;图9硅通孔转接板-适子创运资讯石TSV转接板的制造流程如T:将光刻胶涂覆到裸Si晶圆上,利用掩膜板经过曝光后确定TSV孔的位置,并对其进行显影工艺;采用激光或深反应离子刻蚀(DeepReactiveIonEtching,DRIE)工艺刻蚀形成符合设计要求的TSV孔;由于Si是半导体材料,为了防止TSV漏电以及TSV间的串扰,必须在TSV孔壁上制作Si02绝缘层,因此需要采用等离子体增强化学气相沉积(PlasmaEnhancedChemicalVaporDeposition,PECVD)的方法将Si02绝缘层沉积至TSV孔内壁上;为了防止填充材料与Si02或Si之间发生相互扩散,使用
7、PVD方法进行阻挡层的制作,阻挡层的材料一般为Ti、TiN或Ta;若在后续TSV中导电材料填充的过程中使用电镀工艺,则需使用PVD方法在阻挡层内壁上沉积一层Cu种子层,这是由于电镀工艺进行的前提条件为结构导电,因此需要在阻挡层表面覆盖一层种子层作为导电层,而最常用的TSV种子层材料为Cu;TSV孔的填充方法不止一种,包括采用电镀方法填充Cu、Ti、Al或焊料,采用溅射方法填充W,或者采用真空印刷方法填充聚合物等;图9硅通孔转接板-适子创运资讯石TSV转接板的制造流程如T:将光刻胶涂覆到裸Si晶圆上,利用掩膜板经过曝光后确定TSV孔的位置,并对其进行显影工艺;采用激光或深反应离子刻蚀(DeepR
8、eactiveIonEtching,DRIE)工艺刻蚀形成符合设计要求的TSV孔;由于Si是半导体材料,为了防止TSV漏电以及TSV间的串扰,必须在TSV孔壁上制作Si02绝缘层,因此需要采用等离子体增强化学气相沉积(PlasmaEnhancedChemicalVaporDeposition,PECVD)的方法将Si02绝缘层沉积至TSV孔内壁上;为了防止填充材料与Si02或Si之间发生相互扩散,使用PVD方法进行阻挡层的制作,阻挡层的材料一般为Ti、TiN或Ta;若在后续TSV中导电材料填充的过程中使用电镀工艺,则需使用PVD方法在阻挡层内壁上沉积一层Cu种子层,这是由于电镀工艺进行的前提条件为结构导电,因此需要在阻挡层表面覆盖一层种子层作为导电层,而最常用的TSV种子层材料为Cu;TSV孔的填充方法不止一种,包括采用电镀方法填充Cu、Ti、Al或焊料,采用溅射方法填充W,或者采用真空印刷方法填充聚合物等;