霍尔效应测试系统可测试材料有哪些.docx

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霍尔效应测试仪可测试材料有哪些霍尔效应测试仪，是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必*的工具。该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知*度。仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或固体材料均可。可测试材料:半导体材料：SiGe,SiC,InAs,InGaAs,InP,A1GaAs,HgCdTe和铁氧体材料，低阻抗材料：石墨烯、金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR材料，高阻抗材料:半绝缘的GaAs,GaN,CdTe等。测试样品展示单晶Si珅化镇GaAsuro氨化短GaN透明氧化物C电合金石墨烯rw铺化锢InSb