YST1105-半导体封装用键合银丝.docx

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1、ICS77.150.99H68中华人民共和国有色金属行业标准YS/T1105XXXX代替YS/T1105-2016半导体封装用键合银丝Si1verbondingwireforsemiconductorpackageXXXX-XX-XX实施XXXX-xx-xx发布目次前言111范围12规范性引用文件13要求13.1 产品分类及标记13.2 化学成分23.3 尺寸及其允许偏差23.4 力学性能23.5 表面质量33.6 丝材应力33.7 绕丝要求33.8 放丝性能34试验方法35检验规则45.1 检查和验收45.2 组批45.3 检验项目45.4 取样45.5 检验结果的判定46标志、包装、运输和

2、贮存56.1 标志56.2 包装56.3 运输、贮存57质量证明书58订货单（或合同）内容6附录A（规范性）银丝表面质量检验方法7附录B（规范性）银丝放丝性能检测方法8附录C（规范性）银丝线轴规定9附录D（规范性）银丝的丝材应力检验方法9本文件按照GBT1.12O2O标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则的规定起草。本文件代替YS/T11052016半导体封装用键合银丝，与YS/T1105-2016相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下：a）更改了规范性引用文件，删除密度的测试方法，增加YSZT958银化学分析法银、物、铁、铅、锦、把、硒和确量的测定电感耦合等离子体原子发

3、射光谱法（见第2章，2016年版的第2章）；b）增加了键合银丝CSI（Ag99.99）、合金银丝AS5（Ag88）的产品分类、化学成分、力学性能要求（见第3章）；c）更改了银丝的产品标记表述形式（见3.1.2,2016年版的3.1.2）；d）更改了银丝的化学成分（见3.2,2016年版的3.2）；e）更改了银丝的长度及其允许偏差（见3.3.2,2016年版的3.3.2）；f）更改了银丝的力学性能，删除质量和状态要求（见3.4,2016年版的3.4）；g）删除了银丝的密度要求及试验方法（见2016年版的4.2）；h）更改了银丝检验结果的判定（见5.5,2016年版的5.5）；i）更改了附录C银丝

4、线轴规定（见附录C,2016年版的附录C）。请注意本文件的有些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由中国有色金属工业协会提出。本文件由全国有色金属标准化技术委员会（SAV/TC243）归口。本文件起草单位：烟台一诺电子材料有限公司、。本文件主要起草人：林良、。本文件所代替的历次版本发布情况：本文件于2016年首次发布，本次为第一次修订。半导体封装用键合银丝1范围本标准规定了半导体分立器件、集成电路、1ED封装用键合银丝（以下简称银丝）的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存质量证明书、订货单（或合同）等内容。本文件适用于半导体封装用键合银丝。2规范性引用文件

5、下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件,仅改日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T8750半导体封装用键合金丝GB/T10573有色金属细丝拉伸试验方法GB/T11067（所有部分）银化学分析方法YS/T958银化学分析法银、锌、铁、铅、锦、钿、硒和确量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法GB/T15072（所有部分）贵金属合金化学分析方法GB/T15077贵金属及其合金材料几何尺寸测量方法3要求3.1 产品分类及标记3.1.1 种类、型号和规格银丝按化学成分分为键合银丝、银合金丝两大类

6、。普通银丝2个型号，是Ag含量99%及以上的银丝，合金银丝可以根据合金元素及其含量不同分为Ag98、Ag97、Ag96、Ag95、Ag88等5个型号。银丝的种类、型号和直径应符合表1的规定。表1种类、型号和直径种类型号规格键合银丝CS1(Ag99.99)直径(mm):0.018,0.019,0.020,0.022,0.023,0.025,0.028,0.030,0.032,0.033,0.038,0.040,0.042,0.045,0.050,0.060,0.075CS2(Ag99)合金银丝AS1(Ag88)AS2(Ag92)AS3(Ag95)AS4(Ag97)AS5(Ag98)注：根据需方的

7、要求可增加其他直径的银丝。3.1.2产品标记产品标记由产品名称、标准编号、产品型号、银的质量分数和规格组成。标记方法及标记示例如下:YS/T1105mTTTTIcb产品名称a产品型号；b一一银的质量分数：c一一规格,产品用直径X长度表示,直径以微米或英制单位标记时要注明单位,亳米为常用单位,可不标记。示例1：银的质量分数为99乐产品型号为CS,直径为0.025,长度为IOOom的银丝，标记为：银丝，YS/T1105-CS99-0.025IOOOmo3.2化学成分银丝化学成分应符合表2的规定。表2银丝的化学成分%型号牌号Aga含量不小于添加元素杂质元素总量不大于CS1Ag99.9999.990.

8、01CS2Ag999999.990.99AS1Ag88878933444442IO30.0190.00133444442IO30.0200.001445555521230.0220.001445444421230.0230.001557555521530.0250.18810888821630.0280.0011010121()10101022040.0300.0011010141010101022540.0320.0011010161010101022540.0330.0011010171010101022540.0380.0011010221010101033040.0400.110102

9、51010101033050.0420.0011010251010101033050.0450.0011010301010101033550.0500.0021010381010101034050.0600.0031010451010101034050.0750.003101050101010103455a伸长率波动范围的含义说明：同一批产品伸长率应为6%s9%或模S1o%等，其波动差值为3。注：对于需方有特殊要求的产品，由供需双方协商解决。1.5 表面质量3. 5.1银丝表面应清洁，无指痕，油污及锈蚀。4. 5.2银丝表面应无拉伸润滑痕迹、颗粒附加物和其他沾污。3.5.3银丝表面应无刻痕、凹

10、坑、划伤、裂纹，凸起、打折和其他降低器件使用寿命的缺陷。3.5.4银丝表面应无氧化。3.5.5线轴形状应规则，表面应着色均匀，应平滑光洁，不应有毛刺、变形和妨碍银丝自由落下的附着物。3.6丝材应力3.6.1银丝从轴上自由放下时应无明显卷曲，允许银丝有不降低其使用功能的轻微卷曲。3. 6.2银丝应无轴向扭曲。3.7绕丝要求3 .7.1银丝应绕在规定线轴上，单层或多层绕线，线轴应符合附录C的规定。4 .7.2单轴长度和绕丝方式应符合需方要求。3. 7.3绕丝的始端和末端应明显标出，丝的两端用彩色胶带粘贴紧，标志贴绿色为始端，红色为末端。3.8放丝性能银丝应自由下滑放线，不应有过多的停点和打折现象，

11、停点频率每百米不大于1个。4试验方法4.1银丝的化学成分的仲裁分析方法按GB/T11067（所有部分）、YS/T958及GB/T15072（所有部分）规定的方法进行。4. 2银丝的直径及允许偏差测量按GB/T15077的规定进行，银丝长度及其偏差测量方法按GB/T8750附录E的规定进行。4 .3银丝的力学性能测试按GBZT10573规定的方法进行,试样标距为100mm,拉伸速度为10mmmin,5 .4银丝的表面质量检验方法按附录A的规定进行。4. 5银丝的丝材应力检验方法按附录D的规定进行。4.6银丝绕丝检查采用目视检测。4. 7银丝的放丝性能的检测方法按附录B的规定进行。5检验规则4.1

12、 检查和验收4.1.1 银丝由供方质量检验部门进行检验，保证银丝质量符合本标准规定并填写质量证明书。4.1.2 需方可对收到的银丝按本标准规定进行检验，如检验结果与本标准规定不符合时，应在收到产品之日起30日内向供方提出，由供需双方协商解决。如需仲裁，可委托双方认可的单位进行，仲裁取样在需方共同进行。4.2 组批产品应成批提交验收，每批由同一熔炼炉次、型号和规格的产品组成。4.3 检验项目每批产品均应进行化学成分、尺寸及其允许偏差、力学性能、表面质量、丝材应力、绕丝要求、放丝性能等项目检验。如果需方有其他特殊要求。可由供需双方协商决定。4.4 取样产品的取样应符合表4的规定。表4取样检验项目取样规定技术要求的章条号实验方法的章条号化学成分每熔炼炉次取1个试样3.24.1尺寸及其允许偏差每批按轴数的1%,至少取1轴3.34.2