SPC管理规定.docx

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1、SPC管理规定受控状态:发放编号:发布日期2023年1月20日实施日期2023年1月25日编制审核批准有限公司发布修订履历表序号日期版本修订内容编制审核批准12023/1/20A/0首次发布1目的实施统计过程（SPC）控制，合理使用控制图，识别和消除过程变差的特殊原因，使过程稳定；考虑预测将来的测量值，以验证过程持续运行的稳定性。2范围适用于公司对统计过程控制（SPC）的管理。3职责3.1 多方论证小组负责SPC的总体管理，在产品质量策划中，确定SPC（控制图）的应用场合和要求。3.2 质量部负责按控制计划要求实施初始过程能力研究，并应用控制图进行统计过程控制。4定义无5管理内容5.1控制图的

2、应用时机5.1.1 产品质量先期策划（APQP）时，在过程设计和开发阶段提出初始过程能力研究计划，并在产品和过程设计确认阶段进行初始过程能力研究。5.1.2 批量生产后，根据控制计划中的控制图应用要求，应用控制图进行统计过程控制。5. 1.3其他：如顾客要求；质量改进需要时。5.2 控制图的类别5 .2.1按数据类型分常规控制图类别应用场合控制限计算公式C1UC11C1计量型控制图均值极差图（M-R）产品批量较大，稳定正常工序，子组容量V9（通常4或5）XRX+ARDiRX-A2RD.R均值标准差图（元-S）产品批量较大，稳定正常工序XSX+AiSB4SX-A5SByS中位数极差图（-R）一-

3、一单值移动极差图（X-MR）每次只能得到一个数据XRX+2.66RD1RX-2.66RD.R计数型控制图不合格品率图（P图）计件，样本量可以不等P吃Vm不合格品数图（NP图）计件，样本量相等而iip+3p(1-p)rip-r(-p)不合格数图（C图）计点，样本量相等CC+3#C-3F单位不合格数图（U图）计点，样本量可以不等U*3原原6 .2.2按用途分1）分析用控制图分析过程是否处于统计控制状态（统计稳态）；过程能力是否满足要求（技术稳态）。2）控制用控制图为了持续控制，延长控制限，实现统计过程控制。5.3 控制图使用步骤5. 3.1第一阶段：分析用控制图1）确定控制对象（包括过程和特性），

4、选择控制图。2）建立抽样计划a.确定合理子组：连续取样形成的子组，使过程改变的机会最小并且子组内的变差也最小。b.确定子组容量均值极差图（元-R），通常取子组容量4或5个；子组容量保持恒定。均值标准差图（元-S）,通常取子组容量4或5个；子组容量保持恒定,单值移动极差图（X-MR）,子组容量为1个。计数型控制图：为方便控制图的后续控制应用，对P图、U图每次样本数量一致。c.确定子组个数：初期收集数据时应大于25组（其中元-R图和元-S图，子组内需包含至少IOO个数据），以避免数据异常时补充数据。d.确定子组频率：通常按时间顺序来取子组，以探测过程随时间发生的变化。3）收集数据：a.按确定的抽样

5、计划，收集数据，并记入控制图对应栏中。（EXCE1格式的控制图软件）b.应用单值移动极差图（XTR）之前，必须要验证数据的正态性。Minitab软件验证，路径：统计/基本统计量/正态性检验；或统计/基本统计量/图形化汇总。判定标准：P值0.05时，数据符合正态分布。4）计算控制限控制图软件自动计算中心线C1和上下控制限（UC1、1C1）,计算公式见5.2.1控制限计算公式”。5）作图打点a.控制图软件自动打点，绘制出控制图。b.中心线为实线，控制限为虚线。Minitab路径1：统计/控制图/子组变量控制图/Xbar-R或Xbar-S;Minitab路径2：统计/控制图/单值的变量控制图/I-M

6、R；Minitab路径3：统计/控制图/属性控制图/P或NP或C或U。6）分析和观察a.针对计量型控制图，先分析R、S、MR图，再分析均值元图、单值X图。b.判异准则：连续6点递增或递减（6连串）连续14点中相邻点上下交替（14交替）连续5点中有4点落在中心线同一侧的C区以外（4/5B同侧）注：1）计量型控制图的Xbar、X图判异准则为一条；2）计量型控制图的R、S、MR图和计数型控制图的判异准则为一条。3）如果无法确定哪些检验适用于具体情况，在“分析用控制图”中使用检验、和。在“控制用控制图”中使用检验、。c.出现异常点的处理识别和标注特殊原因，并采取纠正措施，以防止再发生。排除已被识别并消

7、除特殊原因影响的子组，重新计算控制限，作图并再次分析，直至稳定。5.3.2过程能力分析（技术稳态）当达到统计稳态（即过程受控）后，对过程能力进行分析，确定是否满足要求。1）计量型数据的过程能力衡量指标a.过程能力指数：CpCpkb.过程性能指数：PpPpk控制图软件自动计算Cp、Cpk和Pp、Ppk,具体的计算公式，见下表：指标计算公式备注双边公差单边公差过程能力指数Cp(US1-1S1)/6.Cp和CPk应该一起评价和分析，当CPk远小于CP时，表示可以通过使过程趋中（减少偏移）来改进。CpkMin(CpuCpDCpu=(US1-X)3.或Cp1=(京-1S1)/3过程性能指数PP(US1-

8、1S1)/6,.Pp和PPk应该一起评价和分析，当PPk远小于PP时，表示可以通过使过程趋中（减少偏移）来改进。PpkMin(PPu，PpDPpu=(US1-X)/3p或PP1=(-1S1)/3p.R_S,1(xz-J)26=。二/或一；S=S=J-，k个子组，每个子组容量n,则m=k*nd2c4Vm-如果过程处于统计受控状态，过程能力将非常接近过程性能。过程能力和过程性能出现较大差异，表明有特殊原因出现。2）过程能力要求a.通常初始过程能力要求指数（PPk）21.67；稳定量产后要求Cpk2133；顾客有要求时，按顾客要求执行。b.当过程能力不能满足要求时，需对过程加以改进，以达到过程能力要

9、求。5. 3,3第二阶段：控制用控制图5.1 过程受控且过程能力满足要求时，延长控制限，由分析用控制图转为控制用控制图。2）控制用控制图的日常管理a.按分析用控制图时确定的抽样计划，由操作人员收集数据，打点作图，分析是否有异常点（变差的特殊原因）出现，判异准则见5.3.16）b条款。b.出现异常点时，识别和标注特殊原因，并采取纠正措施，以实现统计过程控制。3）当发生重要的过程活动，如更换工具（如：刀具、夹具）或修理（调整）设备后，需重新确认。在SPC取值描点时，需要记录这些活动。5.4 控制图的更新当出现以下情况下时，需对控制图予以更新：D按策划的周期重新使用“分析用控制图”，分析过程能力。2）持续改进的需要，如：过程能力要求的提高。3）过程不稳定，发生重大质量异常时。4）其他，如顾客提出要求等。5相关文件5.5 统计过程控制SPC参考手册第二版6相关记录6. 1SPC研究计划6.2各类控制图