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1、ICS31.030CCS190中华人民共和国电子行业标准SJ/T10557.12023代替SJ/T10557.11994电解电容器用铝箔技术条件Specif1cationfora1uminiumfoi1fore1ectro1yticcapacitor2023-01-01实施2023-10-20发布中华人民共和国工业和信息化部发布前言I1范用12规范性引用文件13技术要求14试验方法35检验规则36标志、包装、运输、贮存4附录A（规范性）激光椭圆偏振法测量铝箔表面氧化膜摩度方法（参考件）6本文件按照GB/T1.1-2023标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则的规定起草。本文件替代S
2、J/T10557.11994电解电容器用铝箔技术条件，与SJ/T10557.1T994相比，主要技术变化如下：规范性引用文件中，将“GB”228金属力学性能试验方法”修改为“GB/T228.1金属聆金化学分析方法”修改为“GB/T,“SJ/T1(和仲裁所方法”了相关表述;检验5明容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担谢PJ请注意科本标准由全本标准主要j本标准主要起草火:力学性能试验方法”，“GB20975.3铝及铝合金铝合金化学分方法第质量一致性致性检验”“判定规法”电解够修i、“鉴定样数”归在隹“重复就“检*了相法述;要;化学力温力，“幅体结构则中删子技术标准化研究院。；、李其聪、管.2高压
3、电解电容器用铝箱47”的表格结构;皆改为“化学万遂”的相关表述。J测定”、“GB/T20975.4铝及75.5铝及铝合金化学分析解电容器用铝箱测试方、SJT10557.31范围电解电容器用铝箔技术条件本文件规定了电解电容器用铝箔的技术要求，试验方法，校验规则及标志、包装、运输和贮存.本文件适用于高压电解电容器用阳极箍称低压原箔）和电解电容器用阴高压原箔），低压电解电容器用阳极箔（以下简2规范性引用文件下列文件中仅该日期对应留文件。GB/TGB/TGB/TiGBZ1jGB1SJTSJ/T|0二产品包装的规范性引用而构成本文件必不可的引用文件，其出,注日期的引用文件,、!修改单）适用于本一铝合铝及
4、锡铝及镶铝及铝合高压电解：硅3技术要R3.1尺寸及免3.1.1铝箔的厚,、运输、贮有修第3部分：铜度4部分:铁测定测定测定摩度宽度0.015-0.0200.00250.0300.0030.040-0.0500.00440IoOO0.0600.0059010000.0700.01050.0070.120-0.1500.0100.108-0.2000.015注：经供需双方协议，可供应其他规格的箱材.3.1.2铝箔的宽度允许偏差应符合表2的规定。表2单位为亳米宽度允许偏差6001.0注：合同供货宽度应由供需双方商定.3.2化学成分3.2.1高压原箔和低压原箔的化学成分应符合表3的规定。表3单位为Cu
5、()Fe()Si()A1()0.0050.0030.002599.990.0050.0150.01599.970.010.020.0299.950.010.040.0499.930.010.060.0699.90.010.100.0899.850.00250.00500.0140.01499.97注：经供需双方协议，可按协议供货.3.2.2阴极箔的化学成分应符合表4的规定。表4单位为CuFeSiA10.010.160.1699.70.010.250.2099.6注：经供需双方协议，可按协议供货.3.3 力学性能铝箱的纵向室温力学性能应符合表5的规定。表5厚度mm状态抗拉强度6Nmm2伸长率%0
6、.015-0.090M型224.522.0Y型98.00.50.1000.200M型29.410Y型妾98.0N0.53.4 晶体结构性能3.4.1软状态高压原箔的表面平均位错密度不大于5X1（）5个/cm?。1.4.2 软状态高压原箔的（IOO）晶面占有率不小于80%。1.4.3 软状态高压原箔的表面氧化膜厚度不大于5nm。注：经供需双方协议，可供应其他参数的箔材.3 .5表面质量铝箔表面应洁净，不得有腐蚀斑痕、气泡和严重的非金属压入物及鱼鳞纹，不允许有深度超过厚度负偏差一半的划道和擦伤，退火状态铝箔边部不允许有严重的黄色油斑，旦表面不得粗糙。铝箔表面应平整，边缘无突出海带状或严重的印痕及边
7、部毛刺。铝箔箔卷的端面应整齐，无碰伤和污垢，箔的整个长度应易于展开，无粘结合撕裂现象。铝箱经腐蚀后应无块状亮斑。4 .6其他要求电解电容器用铝箱应缠在洁净的钢管或铝管上，管内直径为75mm1mm,外径不大于80mm,钢管长应大于箔宽5cmIOCm,铝管和箱同宽，铝箔卷在立拿时不允许层与层间滑动及管脱出。铝箱箔内的断头次数，每卷不得多于一个，断头处应有明显标记。4 试验方法4.1 尺寸测量方法厚度在0.003mm0.05mm的箔材，采用精确度为0.5n带球状的测微计测量。测微计应具有不超过250g的测量压力和半径在16mm20mm范围内的球形测量头；厚度大于0.05mm的箔材，用刻度值不小于0.
8、01mm的测微计进行测量，也可用同等精度的其他测量仪器。4.2 化学成分分析方法电解电容器用铝箔的CU的测试分析方法可按GBZT20975.3进行，电解电容器用铝箔的Fe的测试分析方法可按GB/T20975.4,电解电容器用铝箔的Si的测试分析方法可按GB20975.5进行。4.3 室温力学性能试验方法电解电容器铝箔的纵向室温力学性能应按GBb228.1进行。试样尺寸宽应为15nm,长应为170mm4.4 晶体结构测试方法软状态高压原箱的表面平均位错密度的测量按SOT10557.3进行。软状态高压原箔的表面（IOO）晶粒占有率测量按SJZT10557.2进行。软状态高压原箔的表面氧化膜测量按附
9、录A（参考件）进行。4.5 表面质量检验采用目视法逐卷检验，受检箔卷应打开1m3m.5 检验规则5.1 检验分类电解电容器用铝箔的检验分为鉴定检验和质量一致性检验。5.2 鉴定检验鉴定检验应由具有资质的检验机构负责进行，样品应是生产中正常使用的设备和工艺制造的产品。检验项目应符合表6的要求。5.5 有下列情形之一，应进行鉴定检验:5.6 判定规则若受试样品通过表6中列举的各项检查或试验，则鉴定检验合格；若其中有任何一项或一项以上超过表3规定的允许不合格品数时，则不授予鉴定合格资格。当室温力学性能试验，晶体结构试验有一个试验的试验结果不合格时，应从该卷中另取双倍数量的试样进行重复试验。如复验仍不
10、合格，则该卷作废。然后对该批剩下的逐卷试验，合格者交货，不合格者作废。6标志、包装、运输、贮存6.1 标志电解电容器用铝箱的包装箱标志应符合GB3199的规定。6.2 包装、运输和贮存电解电容器用铝箔的包装、运输和贮存应符合GBZT3199的规定。6.3 质量证明书每批电解电容器用铝箔应附有符合本标准要求的质量证明书，其上注明:a）供货名称；b）合金牌号；c）化学成分；d）供应状态；e）箔卷长度：f）重量；g）规格；h）批号；i）质量监督部门检印；j）生产日期；k）本标准编号。附录A（规范性）激光椭圆偏振法测量铝箔表面氧化膜厚度方法（参考件）A.1范围本方法适用于软状态高压原箱的表面氧化膜厚度
11、的测定。1.激光器：2.激光器出射光栏；3.起偏器；4.起偏器读数显微镜；5.四分之一波片；6.四分之一波片读数显微镜；7.入射光栏：8.待测样片：9.样品台：10.出射光栏；I1检偏器；12.检偏器读数显微镜；13.检流计光栏：14.光电倍增管及检流计.图A.1测量表面氧化膜厚度的方法原理图A.5测量A.5.1测量准备A.5.1.1在测量前调整激光器光轴与检流计光轴准直，以确保出射光被检流计接收。A.5.1.2实验前应获得铝箔材料基体的折射率及光吸收系数。A.5.2根据激光椭圆偏振测量膜层厚度的方法，测量铝箔表面氧化层相应的参数，测量时可选择适当的激光器，以获得特定的波长（如He-Ne激光器），也可根据实验选择适当的光电倍增管和检流计。A.5.3为消除实验误差，采用激光束变角度入射（如50、6070入射），进行相应测量，获得各个角度下的相应参数。A.5.4将测量所得的参数与已知的铝箔材料的光学折射率、光吸收系数及空气的光折射率一同进行数据处理，确定铝箔表面轨化膜层厚度。
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