GB∕T40602.3-2023 天线及接收系统的无线电干扰第3部分场地测量紧缩场场地性能确认方法.docx

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1、IC833.100CC8b06f1O中华人民共和国国家标准CB/T40602.32023天线及接收系统的无线电干扰第3部分：场地测量AniennaaarirecepiiowysieiorraciioiIererecePari3:Te1iieeareeiPeroraceiebieiBociocopacirae2023-09-072023-09-07CBT40602.32023m.I&c:CaHM!&B-1a&发布CB/T40602.32023前言T引言*U1范围123 术语和定义14 一般要求24J概述24.2 测量环境要求24.3 电源要求24.4 测量场地要求25 测量系统25.2 系统框图

2、25.3 测量设备36.1 概述56.2 测量频段和测量频点56.3 56.4 数据处理66.5 场地指标9?MaM3810SiiIMJNo10K)TOMCBij-2023IiMiiJNoa1:W69M*：#CB/T(2)406027;i尔Mi&rfi&iDK69HTJN.次*脂69曲OT求ImH5069“百oCHHT6TH3KHCMC3ACTC79)IC-HH.本文件起草单位：上海电器科学研究院、南京纳特通信电子有限公司、广东省珠海市质量计量监督&aJN,IOTHIInM11IIIIeTiHHPK51,JN2re*孤.Ii&y?I1n111次7E院、上海莱天通信技术有限公司、常熟市泓博通讯技

3、术股份有限公司、深圳市蓉声科技有限公司、上海泰峰检测认证有限公司、青岛空天电子信息技术研究院有限公司、上海电器设备检测所有限公司、东莞市OiniCCH,OiAAr-IHICJNoArc=rrAAA,CACH4tomIOTO次为H4XPHktt*i.ini.尔MK&HT.K)TT.B.aIB.0T尔沃尔OnI111尔CBT(2)40EO2(GAIiJ0K百9XATAII1iiT(MB?1波暗室内等高架远场的测量方法。-第2部分：基础测量高增益天线方向图室内平面近场测量方法。目的在于规定高增益天线平面近场扫描法在微波暗室内测量天线方向图的方法。第3部分:场地测量紧缩场场地性能确认方法。目的在于规定

4、紧缩场屏蔽效能、静场辐射特C.IH&#rc*H3:X1UCm&MM第4部分：无线接收系统6XoTC51HTr.Aa#HHK)CHMH3r&.BHHTCAAniMMHHac;b/T(X)40602CB/T38889百网I1nXoxDK$说TM天线及接收系统的无线电干扰范围*r-HcamijA.iji.尔bi尔T尔ePJIhTxcCM0.6OHa-Oo2尔TAXeiffii1MXiiiCNADKInA/#AATAiiAAocI513f1iH3IHCB87022014II1 CB8702-2014CB/T121902023AC2 I1B1HcopaciueipoiarraiioM5Ir&A5I1:b

5、1:TE3IE5b1CIc44.1 *：&4.2 :室场地。场地的性能确认需在静区内进行,确认参数包含幅度平坦度、幅度锥削、幅度波纹、相位平坦度、相位锥削、相位波纹和XT.4.3 电源要求除另有规定外,测量在以下电源条件下进行：a)紧缩场的电压波动应在额定电压的5%内，频率变化应在额定频率的5%内，宜配不间断电源；a) 5P次IMM5-35;b) IK)i25%-?5A1c) qEJI:86KPaIo6Paaio尔O沃尔raoUI它紧缩场屏蔽性能检测按照GB/T12190-o1kx5测量系统5.1 系统框设备组成，毫米波频率一般需要使用扩频器才能满足要求，测量系统应满足动态范围大于50c1B的

6、要C1BIM-米，E0.6CH3-OCH2次I*AHi9II1iiAa.TAUIAi1IIUI2e反射面平面波静区愦源GHz测量系统示意图图10.6CH/-50睁区图250GHz-110GHZ测量系统示意图5.2 3M5.2.1 JI3KH&a51T仇4”-%:IHEoaB03&MH：hoaB5.2.20百百:1.5B51A5I:HT401Baa2:-HriH.,HJ2MJN2JIAhHhBI*Inio”泣&h2兄5.2.3HIH器频率范围：满足测试要求范围。增益：典型值为30dBo524稳幅稳相电缆Ma1wK$山,XME*bT0.1aB4IHiAAKOT15.2.5JIWIIiIMM4&Oi

7、5IIH百XCMPrxC八百Ii1EmETi4.,r51H&CJNo3KM4AC&MMAHAHA+f1场6J概述BinBAOTTiiiiM5.M33hCIM*KhhMTi兄o3Bf1Am&Hi#&Tnomii3f1f1-Aii,；JNoI求I11JIE3A。HMI1I京InHtiB山3f1HM4.1o点测量。标准增益喇叭天线的频率范围见表1。表1iiAAra/cib0.490.7520.751.1231.121.7040-52,60-3,9563,95-5.8575.85-8,2088.2012,4912.4-18.01018.026,51126.5401233.050.01350.0-75.

8、01175.0-110.06.3测试步骤测试静区内每个位置上幅度和相位的数值,需按如下步骤进行测试:a)iJNoiMHCH-CTXA，点为坐标原点,扫描面坐标见图4；VVV.b.(xV.(OIiihIIVVVVIIHHIIVVVVII&:HH,TH4E;HVjiA11IM&vVh$IUk.eeIII4bviiMi,iM,?八VKICo图4扫描面坐标示意图B)C)IJI?a百*皿H尔KbIM?e)IEA-(Hiiii11(M&aaM沃尔Ao,)e);8WImi17次IniioPePoKI(P1IPIe);OPCH.2,3j,一4111)-ii6.4.2幅度锥削TK6.35iinibiBHniaH

9、aa2TIHVv.a) 6.3mihh.vvn巾Pii米naj,AMb-而析口“八.八八直2五八八2)IIIff1Imi(3)CICC!AyzvXA&.X,ccAy=aiX?+/;,X；aX;MAiiMAx：(t):1,6,cIiiiiiHH-b) AI-,5Ib?b)6.4.4KE1UP1JS小似)*2AHH.VV.Py-.-HHbI(7HIU+JNoA7;jiHimjN7ii4(m().b)MiimiMrII1HIO1vCIhIXI坦度：Pfi=Pijmax-P“min(7)式中：pfi-相位平坦度，单位为度()；AUe被校频率相位数据线性值的最大值,单位为度()；Po-min被校频率相位

10、数据线性值的最小值,单位为度(。兀6.4,5求6.32AHH.VVOa) 6.1.4aiaai次次IIIaaPj11XB八&XCA&八八III八,CCIb#f1A(9)ni?IUH$B&mip1:Po=a,X+*2X,+O二二.】二二二二二二二二二二二：P,y=2X)+JhXyIe,二二二二二二二二二二二二5;-a2,击，e2106,I米一&iI勿/*q.b) P,oaij$11&HIJNb1:(10)6.4,6取6.3测试步骤中馈源和天线极化相同的数据，用来计算相位波纹，见表2中的HH,VVo相位波纹数据处理步骤如下。a)6.4.1PJ1n6.4.5&次M次6$I1MnIP：；$IIM,ii

11、1injNo#$n?OIWKIEIiH(Pv-),axSCHPi=E-?1-(Pi-P；/).ii,2ii:p；$nHiimXJc,(13)式中：包，g相位测量一次多项式拟合系数。HHani)HaiAA，rH9i1HCm|1.06B&H4r1.5aBiaB1.0eXXiii旅JN-30a(8o%H),X(1.4)c) PAA(i3)尔济(pp,x,a(14)P,2i=+E(PrPh)TMK-CP,PuyTin/2(Po-P1-(JIT：OTin,6.4.7HTXM.,aMb#6.3III求求Im1IHK)Ii1aTMAIm1IHV:MM(I,(15)1+3n弋口黑(15)5:Ac-HxniniJiH1II,4I1A5Hi(；Ayc-A,；X-Tijiaro紧缩场